高低溫環(huán)境試驗設(shè)備/高低溫保質(zhì)期試驗箱結(jié)構(gòu)特點：

1、內(nèi)外箱材質(zhì)采用激光鐳射加工成型，專業(yè)工程師打造出美觀大方的成型，并采用反作用把手，安操作且簡便。

2、SUS304不銹鋼：具有良好的耐蝕性、耐熱性，低溫強度和機械特性；沖壓、彎曲等熱加工性好，熱處理硬化現(xiàn)象（磁性，使用溫度-196℃～800℃）

3、外箱采用SUS304#拉絲不銹鋼或冷軋鋼板高溫烤漆（任顧客選擇其）。

4、設(shè)有大型可觀測視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。

5、箱體右側(cè)配直徑50mm測試孔，可供外接測試電源線或信號線使用。以便通電的產(chǎn)品做測試，還可以定制多個或者大小不的測試孔。

6、保溫材質(zhì)采用高密度玻璃纖維棉及聚氨酯發(fā)泡，厚度為100mm。門與箱體之間采用雙層耐高低溫之高張性密封條，以確保測試區(qū)的密封性。

7、底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪及水平腳杯。

高低溫環(huán)境試驗設(shè)備/高低溫保質(zhì)期試驗箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；
GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；
GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；
GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；。
MIL-STD810D方法502.2 美標(biāo)準(zhǔn)；
IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.2部分:1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗
EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

高低溫環(huán)境試驗設(shè)備/高低溫保質(zhì)期試驗箱選型資料如下：
高低溫實驗箱型號:AP-GD-80 /AP-GD-150 /AP-GD-225 /AP-GD-408 /AP-GD-800/AP-GD-1000（更多型號在愛佩）
內(nèi)箱尺寸（寬W×高H×深D）cm:80L:40×50×40, 150L:50×60×50, 225L:50×75×60,408L:60×85×80, 800L:100×100×80,1000L:100×100×100
外箱尺寸（寬W×高H×深D）cm:80L:93×131×81,150L:103×141×91, 225L:108×162×112,408L:117×172×132, 800L:160×187×132, 1000L:150×195×165
容積（升=L） :80L,150L,225L,408L,800L,1000L
溫度笵圍:0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-70℃～150℃
升溫速度 :RT～150℃約40min
降溫速度:20℃～0℃約25min,20℃～-20℃約40min,20℃～-40℃約60min,20℃～-70℃約100min
溫度分布均度 :±2℃
溫度波動度:±0.5℃
程控 :120組1200段編程，999次循環(huán)設(shè)定，并附多組PID控制功能，附RS-232計算機接口控制。

高低溫環(huán)境試驗設(shè)備/高低溫保質(zhì)期試驗箱售后服務(wù)
用戶的滿意是我們服務(wù)的宗旨，完善的售后服務(wù)使您解除切后顧之憂，我們堅信個好的企業(yè)賣出去的不僅僅是臺好的產(chǎn)品，更重要的是良好的服務(wù)。東莞市愛佩試驗設(shè)備有限公司負(fù)責(zé)對本公司產(chǎn)品提供以下售后服務(wù)：
1.技術(shù)培訓(xùn)：操作使用、日常維護保養(yǎng)、常見故障檢測和排除
2.定期回訪：設(shè)備巡檢，排除故障隱患，傳遞消息
3.備品、備件專項儲備支持
4.售后服務(wù)部提供維修服務(wù)的快速響應(yīng)
5.專職維修人員確保及時、有效地排除故障