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芯片高溫測試箱

芯片高溫測試箱

簡要描述:

芯片高溫測試箱采用7寸高清真彩液晶觸摸顯示屏,熒幕操作簡單,程序編輯容易,無須按鍵輸入,屏幕直接觸摸選項。(韓國TEMI880儀表)控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇,

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芯片高溫測試箱主要用于試驗深圳區(qū)域的各種材料耐熱、耐干、耐寒、耐熱性能。適合電子、電器、食品、車輛、金屬、化學、建材、LED燈、鋰電池、涂料、動力電池、鞋類,服裝等行業(yè)之用。

技術(shù)參數(shù)表:

型號

AP-HX-150

AP-HX-225

AP-HX-408

AP-HX-800

AP-HX-1000

內(nèi)箱尺寸
W x D x H cm

50X50X60

50X60X75

60X80X85

100X80X100

100X100X100

外箱尺寸
W x D x H cm

115X75X150

115X85X165

130X105X170

165X105X185

170X125X185

溫度范圍

-70,-40,-20,0℃ ~ +150℃(可選擇合適的溫度范圍做價格評估)

解析精度:

±0.01/min,±0.1%RH/min

溫度波動度

±0.5

溫度均勻度

±1.0(-40℃~100)/±2.0(-40℃~+70;+100.1℃~+150)

電源

1Φ 220VAC±10% 50/60Hz & 3Φ 380VAC±10% 50/60Hz

芯片高溫測試箱采用7寸高清真彩液晶觸摸顯示屏,熒幕操作簡單,程序編輯容易,無須按鍵輸入,屏幕直接觸摸選項。(韓國TEMI880儀表)控制器操作界面設(shè)中英文可供選擇,實時運轉(zhuǎn)曲線圖可由屏幕顯示。資料及試驗條件輸入后,控制器具有熒屏鎖定功能,避免人為觸摸而停機。具有100組程序1000999循環(huán)步驟的容量,每段時間設(shè)定*大值為99小時59分。具有RS-232通訊界面,可在電腦上設(shè)計程序,監(jiān)視試驗過程并執(zhí)行自動開關(guān)機等功能。具有自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控制更為*確穩(wěn)定。



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