led冷熱沖擊試驗(yàn)箱選型采用的計(jì)測(cè)裝置，大型LCD彩色液晶觸控對(duì)話式控制器,操作簡(jiǎn)單, 學(xué)習(xí)容易, 穩(wěn)定可靠

冷熱沖擊試驗(yàn)箱 用于高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從的IC到重機(jī)械的組件，不需要它的理想測(cè)試工具

簡(jiǎn)介：高低溫（冷熱）沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在Z短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

光伏組件三箱高低溫沖擊實(shí)驗(yàn)機(jī)采用韓TEMI880控制器人機(jī)界面友好，程序設(shè)定方便，異常及故障排除顯示功能齊。

led冷熱沖擊試驗(yàn)箱不需要使用液態(tài)氣體(LN2或LCO2)輔助降溫，待測(cè)物完靜止測(cè)試方式是當(dāng)電子部品測(cè)試、研究、以及半導(dǎo)體生產(chǎn)線大量適用

led冷熱沖擊試驗(yàn)箱是用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度

工業(yè)冷熱沖擊檢驗(yàn)箱出于工業(yè)產(chǎn)品對(duì)于熱漲冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害用此試驗(yàn)箱能夠很好的做測(cè)試。適用于所有工業(yè)材料、工業(yè)產(chǎn)品的成品或者半成品。東莞市愛佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司規(guī)模大、銷量大、技術(shù)成熟、*、質(zhì)量也有保證、且售后服務(wù)保證承諾時(shí)效，讓大家永后顧之憂。

光電三箱式高低溫沖擊箱分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)完靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試；既可作冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用又可以作單獨(dú)的高溫箱或單獨(dú)的低溫箱使用。冷熱沖擊試驗(yàn)箱附屬功能 定時(shí)器、超溫保護(hù)、傳感器上下風(fēng)選擇、停電保護(hù)、報(bào)警記錄、試驗(yàn)曲線記錄、試驗(yàn)暫停、程序運(yùn)行時(shí)間顯示。

風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)測(cè)試產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，以考核產(chǎn)品的質(zhì)量及可用性。冷熱沖擊箱已成為可靠性實(shí)驗(yàn)室的*測(cè)試儀器。其主要適用于電子、汽車配件、塑膠、LED半導(dǎo)體照明、連接器、通訊、光電光纖、化工、五金模具等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高低溫的反復(fù)沖擊能力。

LED三箱式冷熱沖擊箱廠家技術(shù)參數(shù)： 試驗(yàn)機(jī)內(nèi)箱容積及對(duì)應(yīng)的尺寸可選擇： 50升（寬400*高350*深350mm）； 80升（寬500*高400*深400mm）； 100升（寬600*高400*深400mm）； 150升（寬600*高500*深500mm）； 250升（寬700*高600*深600mm）； 1000升（寬1000*高1000*深1000mm）； 愛佩公司還可以為廣大顧客非標(biāo)定制不

小型冷熱沖擊式試驗(yàn)箱結(jié)構(gòu)及重要參數(shù)： 1.測(cè)試箱溫度沖擊范圍：-40℃～+150℃（可編程任意設(shè)定） 2.蓄熱箱溫度范圍：+50℃～+150℃（可編程任意設(shè)定） 3.蓄冷箱溫度范圍：0℃～-65℃（可編程任意設(shè)定） 4.蓄熱蓄冷時(shí)間：30分鐘以內(nèi)

工業(yè)冷熱溫度沖擊箱技術(shù)參數(shù)： 溫度范圍（范圍內(nèi)任選）可以選擇，A：-40℃~150℃；B：-55℃~150℃；-65℃~150℃，高溫影響價(jià)格不大，所以般默認(rèn)為150度限高溫。 溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間:10秒以內(nèi),溫度沖擊恢復(fù)時(shí)間：≤5min。 溫度波動(dòng)度：±0.5℃;溫度偏差：±2℃

北京實(shí)驗(yàn)室冷熱沖擊箱是用于考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中*的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。主要測(cè)試材料對(duì)高溫或低溫的抵抗力，這種情況類似于不連續(xù)地處于高溫或低溫中的情形，冷熱沖擊試驗(yàn)?zāi)苁垢鞣N物品在Z短的時(shí)間內(nèi)完成測(cè)試。 內(nèi)容積：50L 內(nèi)箱尺寸：360 *350 *400mm

零下40度冷熱沖擊測(cè)試儀器主要技術(shù)指標(biāo) 沖擊溫度范圍可選擇：A:150℃～-40℃;B:150℃～-55℃;C:150℃～-65℃; 儲(chǔ)存箱溫度范圍：高溫箱：RT～200℃ （空載） 低溫箱：RT～-75℃ （空載） 溫度波動(dòng)度：±0.5℃ 溫度誤差：±2℃ 升溫速率：從常溫～200℃≤30min（程平均） 降溫速率：從常溫～-75℃≤40min（

-40℃低溫冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用于電子、汽車配件、塑膠等行業(yè)，測(cè)試各種材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力，試驗(yàn)出產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從的IC到重機(jī)械的組件，不需要它的認(rèn)同。

半導(dǎo)體封裝材料冷熱沖擊試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)： GB 10589-89、GB 10592-89、GB 11158-89、GB/T 5170.2-1996、GB 2423.1-89、GB 2423.2-89、GB 2424.1-89、GJB 150.5-86、QC/T 17-92、IEA 364-32、IEC 68-2-14等。

高溫的冷熱沖擊箱用途：用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)，防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從的IC到重機(jī)械的組件，不需要它的理想測(cè)試工具。

冷熱沖擊高低溫試驗(yàn)箱是種能施加高低溫度應(yīng)力且能實(shí)現(xiàn)在期望高低溫度值能在瞬間快速變化的試驗(yàn)箱，由加熱系統(tǒng)、制冷系統(tǒng)、可程式控制系統(tǒng)、溫度循環(huán)風(fēng)系統(tǒng)、溫度傳感器系統(tǒng)等組成。檢測(cè)產(chǎn)品于熱脹冷縮所產(chǎn)生的化學(xué)變化或物理傷害，確保產(chǎn)品的品用于工業(yè)產(chǎn)品、電子元器件及其它產(chǎn)品的安性能測(cè)試提供高低溫沖擊、忽冷忽熱等可靠性環(huán)境適應(yīng)性試驗(yàn)及產(chǎn)品篩選測(cè)試等，同時(shí)通過此設(shè)備的試驗(yàn)還可提高產(chǎn)品的可靠性及質(zhì)量控制。 冷熱

高低溫循環(huán)沖擊測(cè)試實(shí)驗(yàn)箱特點(diǎn) 1、分高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試樣品放置測(cè)試區(qū)完靜止，采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測(cè)試；既可作冷熱沖擊試驗(yàn)箱使用又可以作單獨(dú)的高溫箱或單獨(dú)的低溫箱使用； 2、可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線測(cè)試部件； 3、大型彩色LCD觸控對(duì)話式微電腦控制系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單易懂，運(yùn)行狀態(tài)目了

深圳冷熱沖擊工業(yè)試驗(yàn)箱用途：用來測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在Z短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害.適用的對(duì)象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子....等材料,可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。 適用于電子、電工產(chǎn)品和其他軍用設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，也是篩選電子元器件初期故障的助手。