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三箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/沖擊測(cè)試機(jī)

三箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/沖擊測(cè)試機(jī)

簡(jiǎn)要描述:

三箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/沖擊測(cè)試機(jī)類似,只是有些人喜歡把箱與叫成槽而已,其實(shí)都是指種容器,通常是種長(zhǎng)方形或正方形的較大的盛東西的器具,而這里的箱或者槽也是樣的,只是盛的東西溫度,由于高低溫沖擊試驗(yàn)箱有高溫與低溫之分,所以三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱的三個(gè)箱子里有個(gè)裝的是高溫溫度;另個(gè)裝的則是低溫溫度;Z后個(gè)則是裝產(chǎn)品及產(chǎn)品測(cè)試時(shí)所需要的溫度,也是人工操作控制器時(shí)所設(shè)定的相關(guān)溫度范圍。這三個(gè)

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三箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/沖擊測(cè)試機(jī)類似,只是有些人喜歡把箱與叫成槽而已,其實(shí)都是指種容器,通常是種長(zhǎng)方形或正方形的較大的盛東西的器具,而這里的箱或者槽也是樣的,只是盛的東西溫度,由于高低溫沖擊試驗(yàn)箱有高溫與低溫之分,所以三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱的三個(gè)箱子里有個(gè)裝的是高溫溫度;另個(gè)裝的則是低溫溫度;Z后個(gè)則是裝產(chǎn)品及產(chǎn)品測(cè)試時(shí)所需要的溫度,也是人工操作控制器時(shí)所設(shè)定的相關(guān)溫度范圍。這三個(gè)箱子是相關(guān)連的,如測(cè)試箱的溫度是使用氣體從高溫箱或者低溫箱里驅(qū)動(dòng)過來(lái)的。所以就有了三箱式高低溫沖擊試驗(yàn)箱的名稱或三箱高低溫沖擊試驗(yàn)箱又或者三槽式高低溫沖擊試驗(yàn)箱,工作原理與成本、價(jià)格、型號(hào)、用途等均相同。

三箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/沖擊測(cè)試機(jī)標(biāo)準(zhǔn)型型號(hào)(另:可根據(jù)客戶要求定做):

AP-CJ--80 內(nèi)箱尺寸:500×400×400 外箱尺寸:1800×1800×1440
AP-CJ--150 內(nèi)箱尺寸:600×500×500 外箱尺寸:1800×1900×1540
AP-CJ--250 內(nèi)箱尺寸:700×600×600 外箱尺寸:1900×2000×1640
AP-CJ-S-480 內(nèi)箱尺寸:800×800×750 外箱尺寸:2020×2250×2150

三箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/沖擊測(cè)試機(jī)測(cè)控系統(tǒng):
1.控制器:進(jìn)口7寸觸屏中英文顯示器+PLC﹙控制軟件﹚+溫控模塊
2.運(yùn)行方式:程序方式
﹙1﹚控制對(duì)象 試驗(yàn)區(qū)曝露溫度
高溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度
低溫恒溫區(qū)預(yù)熱溫度
低溫恒溫區(qū)除霜溫度
﹙2﹚指示精度 0.1℃
﹙3﹚輸 入 熱電偶 TDIN
﹙4﹚控制方式 微電腦PID+SSR控制
3.設(shè)定方式:中文菜單,觸摸屏方式輸入。
4.程序容量:100組程式,每個(gè)程序Z大3步;每個(gè)程序可設(shè)1000次循環(huán),Z大循環(huán)設(shè)定9999cycles;
5.設(shè)定范圍:預(yù)熱預(yù)冷箱區(qū)
高溫室預(yù)熱溫度上限:+200℃;
低溫室預(yù)冷溫度下限:-75℃;
試驗(yàn)室﹙試樣區(qū)﹚
溫度沖擊上限:+150℃;
溫度沖擊下限:-65℃
6.顯示分辨率:溫度:0.1℃ 時(shí)間:0.1min;

三箱可程式冷熱沖擊試驗(yàn)箱/沖擊測(cè)試機(jī)滿足的標(biāo)準(zhǔn)有以下:
GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A 低溫;GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫;GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.22-2002溫度變化;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——箱式;SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式;GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備;GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高低溫試驗(yàn)導(dǎo)則;GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

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