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-40℃冷熱沖擊試驗(yàn)箱
簡(jiǎn)要描述:
-40℃冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。
-40℃冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。
詳細(xì)參數(shù):
低溫儀內(nèi)箱尺寸可選擇:35×35×40、50×40×40、60×50×50、70×60×60、(可按客戶(hù)要求定制)
低溫沖擊試驗(yàn)范圍可選:A:+150℃~-40℃、B:+150℃~-55℃、C:+150℃~-65℃(沖擊任意溫度可以設(shè)定與選擇)
試驗(yàn)方式:氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換至測(cè)試箱方式
低溫室預(yù)冷溫度范圍:-75→0℃
降溫速率:+20→-75℃ 約60分鐘
試驗(yàn)室溫度偏差:±2℃
溫度恢復(fù)時(shí)間:5分鐘以?xún)?nèi)
試樣擱架承載能力:30Kg
-40℃冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn)
1、規(guī)格系列齊、提籃式、三廂式、水平移動(dòng)三種沖擊模式可供用戶(hù)選擇,充分滿(mǎn)足不同用戶(hù)的各種要求;
2、設(shè)備還可提供標(biāo)準(zhǔn)高低溫試驗(yàn)功能,實(shí)現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗(yàn)的共同兼容;
3、高強(qiáng)度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、確保了設(shè)備的高可靠性;
4、工作室材料為SUS304不銹鋼、抗腐蝕、冷熱疲勞功能強(qiáng),使用壽命長(zhǎng);
5、高密度聚氨酯發(fā)泡熱材料、確保將熱量散失減到蕞??;
6、表面噴塑處理- 保證設(shè)備的持久防腐功能和外觀壽命;
7、高強(qiáng)度耐溫硅橡膠密封條、確保了設(shè)備大門(mén)的高密封性;
8、多種可選功能(測(cè)試孔、記錄儀、測(cè)試電纜等)保證了用戶(hù)多種功能和測(cè)試的需要;
9、大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明、可以提供良好的觀察效果;
10、環(huán)保型制冷劑、確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護(hù)要求;
滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件;GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)A:低溫;GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫;GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則;GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)。